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High-precision waveform memory analysis type lens shutter tester
The lens shutter tester of a high precision waveform memory analysis scheme
Lens shutter tester adopts high-precision waveform memory analysis method
Lens Shutter Tester for High Precision Waveform Memory Analysis Solution
| 被測(cè)定物（Measurement shutter） | 數(shù)碼相機(jī)的快門單元 |
| 測(cè)定項(xiàng)目（Measuring items） |
全開(kāi)時(shí)間（T1）
關(guān)閉工作時(shí)間（T2）
有效暴露時(shí)間（TE）
光圈值（Av）
曝光值的差異或光圈值的差異（⊿EV）
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| T2閉じ動(dòng)作検出點(diǎn)（T2 Point detecting [closing operation]） | 0-100%, 5-95%, 10-90%, 15-85%, 20-80% |
| 測(cè)定有効絞り口徑（measuring effective aperture diameter） | φ14.0?φ1.0 |
| 測(cè)定範(fàn)囲（Measuring range） |
±4 EV（曝光錯(cuò)誤）
1到11 AV（Apature值）
1/30至1 / 4,000秒（曝光時(shí)間）±4 EV
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| 測(cè)定精度（Measurement accuracy） |
±15μs（一秒鐘時(shí)）
±0.05 EV（光圈值，曝光值）
±0.03 EV（IRIS模式孔徑值測(cè)量）
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| 電源（Power Supply） | AC100?240V（50Hz/60Hz）?90VA |
| 外形寸法（Dimensions） |
Control unit 130（W）×127（H）×286（D）mm?5kg Light Source and Receptor 90（W）×169（H）×304（D）mm?2kg |
| 外部インターフェース（External interface） |
RS232C |
Contact: 陳先生（Mr. Aaron Chen ）
Phone: 13076936897（微信同號(hào)）
Tel: 0755-2656 1139
Email: sales@wylab.com.cn
Add: 901, 9th Floor, Huafeng Youth Entrepreneurship Incubation Base, No. 31 Jia'an Road, Bao'an District, Shenzhen P.c:518101
