WY-定制測(cè)試卡

景深測(cè)試卡

1、光圈越大(光圈值f越小)景深越淺，光圈越小(光圈值f越大景深)越深。

2、鏡頭焦距越長(zhǎng)景深越淺、反之景深越深。

3、主體越近，景深越淺，主體越遠(yuǎn)，景深越深。

使用說明

1、景深測(cè)試卡包含了兩個(gè)部分組成，刻度底盤與楔形線模塊。

2、圖示刻度底盤標(biāo)示了50cm景深，間隔為1cm，當(dāng)然也可以定制更為精確的刻度值，根據(jù)需求來定。

3、楔形線模塊是用來測(cè)試分辨率的，當(dāng)攝像機(jī)對(duì)焦于其中一塊楔形線時(shí)，楔形線可以用軟件讀出數(shù)值，另外的楔形線由于景深不同，分辨率高低不同。模塊的楔形線也可以根據(jù)需要定制不同的尺寸。

聯(lián)系人：陳先生（Mr. Aaron Chen ）

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