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高精度波形記憶分析型鏡頭快門測試儀
The lens shutter tester of a high precision waveform memory analysis scheme
鏡頭快門測試儀采用高精度波形記憶分析方法
高精度波形存儲器分析方案的鏡頭快門測試儀
| 被測定物（Measurement shutter） | 數(shù)碼相機的快門單元 |
| 測定項目（Measuring items） |
全開時間（T1）
關(guān)閉工作時間（T2）
有效暴露時間（TE）
光圈值（Av）
曝光值的差異或光圈值的差異（⊿EV）
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| T2閉じ動作検出點（T2 Point detecting [closing operation]） | 0-100%, 5-95%, 10-90%, 15-85%, 20-80% |
| 測定有効絞り口徑（measuring effective aperture diameter） | φ14.0?φ1.0 |
| 測定範(fàn)囲（Measuring range） |
±4 EV（曝光錯誤）
1到11 AV（Apature值）
1/30至1 / 4,000秒（曝光時間）±4 EV
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| 測定精度（Measurement accuracy） |
±15μs（一秒鐘時）
±0.05 EV（光圈值，曝光值）
±0.03 EV（IRIS模式孔徑值測量）
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| 電源（Power Supply） | AC100?240V（50Hz/60Hz）?90VA |
| 外形寸法（Dimensions） |
Control unit 130（W）×127（H）×286（D）mm?5kg Light Source and Receptor 90（W）×169（H）×304（D）mm?2kg |
| 外部インターフェース（External interface） | RS232C |
聯(lián)系人：陳先生（Mr. Aaron Chen ）
手機：13076936897（微信同號）
電話：0755-2656 1139
地址： 深圳市寶安區(qū)甲岸路31號華豐青年創(chuàng)業(yè)孵化基地9樓901
